JBWSL-W型小麦（玉米）不完善粒检测仪

1.主要用途：用于小麦、玉米的不完善粒检测。

2.技术参数：

2.1 识别品种：白麦、红麦、混合麦。

2.2 识别范围：病斑粒、生霉粒、生芽粒、虫蚀粒、破损粒、赤霉病粒等。

2.3 图像精度：侧视图有效高度10mm时线数每像素不低于100LW/PH。

2.4 样品量：50克。

2.5 单个样品检测用时：＜5分钟。

2.6 准确性、重复性、台间差、稳定性：符合LS/T6402-2017标准。

2.7 触摸屏操作，实时显示动态检测结果；数据存储、实时打印数据条防人工干预。

2.8 可升级测谷外糙米、整精米率等可选功能

3.售后要求：接到用户维修仪器请求后，在2小时内给予答复。保修期内维修服务不收取服务费用。保修期1年。